产品演示 时长 0:18

激光位移传感器·薄片检测功能演示

激光位移传感器检测薄片的功能演示。高精度激光位移传感器可分辨微小的厚度与位移差异,适合薄片、薄膜的厚度检测与有无判断。

视频标签激光位移传感器 · 薄片检测 · 厚度检测 · 激光位移检测

LK-F 高精度激光位移传感器|重复精度按型号选型

30/50/100/200/400mm测量中心距离|重复精度按型号与测试条件核对

测量中心距离
30 / 50 / 100 / 200 / 400 mm,完整量程见型号表
重复精度
LK-F30为10μm、LK-F50为50μm、LK-F100为100μm、LK-F200为200μm、LK-F400为400μm/800μm(按对应型号与条件)
重复精度条件
画册重复精度条件为24V、+20℃、10ms响应时间、测量中心距离、模拟量输出与白纸目标;重复性不等于绝对准确度,也不能省略条件外推到所有表面。
输出类型
按完整型号核对模拟量/开关量及NPN/PNP;工业以太网等额外接口须有独立交付依据
安全属性
工艺测量产品,不因接入安全PLC而成为人员防护传感器
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